国产*声测厚仪

仅供科研

【产品名称】leeb332国产*声测厚仪

【产品型号】leeb332

【*声测厚仪产品特点】

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何*声波良导体的厚度；可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正；已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；具有耦合状态提示功能；有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；具有自动休眠、自动关机等节电功能；小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁扰。

本*声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生*声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分*声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，地计算*声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。

【技术参数】

测量范围：0.75~300毫米（钢，由探头决定）

存储：无

显示分辨率：0.01毫米

声速范围：1000-9999米/秒

表面温度：-10~60℃

示值误差：±（1%H+0.1）毫米，H为被测物实际厚度

电源：AAA型碱性电池（2节）

操作时间：约200小时

外形尺寸：130×70×25毫米

重量：约0.2千克（主机）

标准配置：主机、L51探头、AAA型碱性电池、耦合剂

可选配：探头、耦合剂

声速：可调

公式：H=vt/2

H－测量厚度；

v－材料声速；

t－*声波在试件中往返一次的传播时间。

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