更新时间:2023-11-03
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何*声波良导体的厚度;可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用;具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正。
仅供科研
【产品名称】leeb342国产数字*声波测厚仪
【产品型号】leeb342
【数字*声波测厚仪产品特点】
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何*声波良导体的厚度;可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用;具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正;已知厚度可以反测声速,以提高测量精度;具有耦合状态提示功能。
有EL背光显示,方便在光线昏暗环境中使用;有剩余电量指示功能,可实时显示电池剩余电量;具有自动休眠、自动关机等节电功能;小巧、便携、可靠性高,适用于恶劣的操作环境,抗振动、冲击和电磁扰。
本*声波测厚仪对厚度的测量,是由探头产生*声波脉冲透过耦合剂到达被测体,一部分*声信号被物体底面反射,探头接收由被测体底面反射的回波,地计算*声波的往返时间,并按下式计算厚度值,再将计算结果显示出来。
【技术参数】
名称 | Leeb342 |
测量范围 | 0.75~300毫米(钢,由探头决定) |
显示分辨率 | 0.01毫米 |
声速范围 | 1000~9999米/秒 |
表面温度 | -10~60℃ |
示值误差 | ±(1%H+0.1)毫米,H为被测物实际厚度 |
电源 | 6V可充电镍氢电池 |
操作时间 | 约200小时 |
外形尺寸 | 212×80×32毫米 |
重量 | 约0.4千克(主机) |
标准配置 | 主机、L51探头、电源适配器、耦合剂、打印纸 |
可选配 | 探头、耦合剂 |
公式:H=vt/2
H-测量厚度;
v-材料声速;
t-*声波在试件中往返一次的传播时间。
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