OLYMPUS 45MG声测厚仪，声波测厚仪使用说明，*声波测厚仪原理

更新时间：2023-11-13

简要描述：

【产品名称】：OLYMPUS 45MG*声测厚仪，*声波测厚仪使用说明，*声波测厚仪原理
【产品型号】：45MG
【关键词】：*声波测厚仪品牌，*声波测厚仪原理，*声波测厚仪厂家

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仅供科研

产品特点：

回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。

单晶：这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。

单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。

数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。

带有波形调整功能的实时A扫描：用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看*声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中较为大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、*回波空白、范围及延迟参数。

技术规格：

测量
双晶探头测量模式	从激励脉冲后的延迟到*个回波之间的时间间隔。
自动回波到回波（可选）	在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
穿透涂层测量（可选）	利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头）
单晶探头测量模式（可选）	模式1：激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。模式2：延迟块回波与个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头）模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。
厚度范围	0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量较为全的范围需要使用单晶选项）
材料声速范围	0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可选择）	低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸）单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸）
探头频率范围	标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般规格
操作温度范围	-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
键盘	密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈
机壳	防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
外型尺寸（宽 x 高 x 厚）	总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量	430.9克
电源	3节AA电池/USB电源供应
电池工作时间	3节AA碱性电池：20到21小时 3节AA镍氢电池：22到23小时 3节AA锂离子电池：35到36小时
标准	设计符合EN15317标准

显示
彩色透反QVGA显示	液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
检波	全波、RF波、正半波、负半波（波形选项）
输入/输出
USB	2.0从接口
存储卡	较为大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡

内置数据记录器（可选）
数据记录器	45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量	475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形
文件名称和ID编码	32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码
文件结构	6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构
报告	机载报告总结了数据统计和较为小值/较为大值