38DL PLUS*声测厚仪|*声波测厚仪销售款

仅供科研

38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

38DL PLUS*声测厚仪产品特点：

可与双晶和单晶探头兼容。 

宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。 

使用双晶探头进行腐蚀测厚。 

穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。 

内部氧化层/沉积物软件选项。 

对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。 

使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。 

多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。 

高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。 

厚度、声速和渡越时间测量。 

差分模式和缩减率模式。 

时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。 

带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。 

用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。 

设计符合EN15317标准。

38DL PLUS*声测厚仪技术参数：

*声波测厚仪使用方法

1、测量准备：将探头插头插入主机插座中开机，全屏幕显示数秒后显示声速（5900m/s），此时可以开始测量。 

2、校准：在每次更换探头、电池及环境温度变化较大时应进行校准。此步骤对保证测量准确度十分关键。如有必要可重复多次，按校准键进入校准状态，用耦合剂将探头与随机试块耦合（一般校准快都在仪器身上），屏幕显示的横线将逐条消失，直到屏幕显示4.0mm即校准完毕，拿开探头后厚度值保持，耦合标志消失。     

说明：当探头与被测材料耦合时，显示耦合标志，如果耦合标志闪烁或不出现说明耦合不好。当材料实际声速与5900m/s不同时，按以下公式计算实际厚度值：Ho=H×Vo/5900,公式中H—5900m/s声速下测得厚度值；Vo—材料实际声速值；Ho—材料实际厚度值。 

3、开始测量工件 

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